Le groupe éolane continue à investir ce second semestre pour améliorer, encore, la qualité de sa production. Ainsi en septembre le site de Douarnenez a équipé sa ligne CMS d’une SPI 3D (inspection optique sérigraphie) et d’une AOI 3D (inspection optique des composants). éolane a retenu les systèmes de balayage laser SIGMAX et XCEED de chez PARMI, une référence dans le domaine de l’inspection optique 3D et un des leaders mondiaux. L'objectif du groupe éolane est de fiabiliser le process CMS en détectant les défauts au plus tôt, permettre des boucles de réactions rapides et ainsi améliorer la qualité de sa production.
Forces de la méthode de balayage laser
1. Inspection sans rapport avec la couleur, le matériau et la rugosité de surface
Acquisition de la hauteur indépendamment de la couleur, du matériau et de la rugosité de surface avec des faisceaux linéaires hautement focalisés et uniformes pour mesurer toute la surface de l'objet
2. Imagerie 3D de profils laser à l'aide de MPC (corrélation multi-profils)
Acquisition de la hauteur de l'objet par la technologie de profilage laser unique de PARMI pour mesurer la base exacte
3. Inspection de la déformation du PCB avec la fonction de suivi en temps réel de l'axe Z
Première utilisation de l’axe Z en temps réel dans l’industrie pour l’inspection du gauchissement des PCB
Optimisé pour le contrôle de l'axe Z avec la tête de capteur la plus légère et la plus compacte de l'industrie (3,5 kg)
4. Imagerie 3D de composants élevés par fonction de numérisation en plusieurs étapes
Mesure de l'axe Z pour éviter que les images des composants supérieurs à 5 mm ne deviennent floues
5. Suppression parfaite de l'effet d'ombre
Suppression de l'effet d'ombre en utilisant deux lasers avec des angles de projection étroits
6. Réduction de la distorsion d'image causée par l'environnement externe après le soudage
Tête de capteur TRSC de PARMI avec un temps d'exposition court
Aucune distorsion d'image par les circuits imprimés haute température immédiatement après le soudage
Aucune influence des interférences lumineuses externes